金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測厚儀產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備 產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀型 號:iEDX-150WT生產(chǎn)商:韓國ISP公司亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
更新時間:2023-04-24
品牌 | ISP/韓國 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,電子 |
可測層數(shù) | 多鍍層1-5層 | 元素分析范圍 | 鋁(Al)到(U)鈾 |
測量時間 | 1-120秒 | 平臺尺寸 | 620mm*525mm |
平臺移動范圍 | 200mm*200mm*5mm | 最大負(fù)載重量 | 5公斤 |
產(chǎn)地 | 韓國 |
金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測厚儀產(chǎn)品簡介:
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀
型 號:iEDX-150WT
生產(chǎn)商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
產(chǎn)品圖片:
金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測厚儀 iEDX-150WT特點:
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC:110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結(jié)露 | ●功率:150W + 550W |
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測,最多鍍層檢測可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性高(見以下產(chǎn)品特征詳述)。
2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達(dá)220*220*10mm。(固定臺可選)
3. 激光定位和自動多點測量功能。
4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
5. 運行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,半定量分析。
7. 操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果。
8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
9. 軟件*升級。
10. 無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可長期使用。
11. 使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù)。
12. 可以遠(yuǎn)程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
13. 可進(jìn)行RoHS檢測(選配功能),測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析。
(二)產(chǎn)品特征
1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2. 計算機(jī)/ MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。
3. Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法,對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析。
可以增加RoHS檢測功能。
4. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
5. 測試能力(基本配置:PIN探測器+0.3準(zhǔn)直器)
當(dāng)化金厚度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S
準(zhǔn)確度規(guī)格±5%
精確度規(guī)格<5%(COV變動率)
當(dāng)化金厚度>5u〞時,測量時間為40S
準(zhǔn)確度規(guī)格±5%
精確度規(guī)格<5%(COV變動率)
當(dāng)化銀厚度在5u〞-15u〞時,測量時間為40S
準(zhǔn)確度規(guī)格±8%
精確度規(guī)格<7%(COV變動率)
測化錫時,測量時間為40S
準(zhǔn)確度規(guī)格±8%
精確度規(guī)格<6%(COV變動率)
準(zhǔn)確度公式:準(zhǔn)確度百分比=(測試10次的平均值-真值)/真值*100%
精確度COV公式: (S/10次平均值)*100%
6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
7. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量。最大測量點數(shù)量 =每9999 每個階段文件。每個階段的文件有最多25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
測量原理:能量色散X射線分析 | 樣品類型:固體/粉末 |
X射線光管:50KV,1mA | 過濾器:5過濾器自動轉(zhuǎn)換 |
檢測系統(tǒng):Pin探測器(可選SDD) | 能量分辨率:159eV(SDD:125eV) |
檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | 準(zhǔn)直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
應(yīng)用程序語言:韓/英/中 | 分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光 |
儀器尺寸:840*613*385mm | 樣品移動距離:220*220*10 mm(自動臺) |
1. X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)
微焦點X射線管、Mo (鉬)靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供最佳性能。
2. 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
4. 平臺:軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
激光定位、簡易荷載最大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量
5. 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計算機(jī)、打印機(jī)(贈送)
1) 含計算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)
2) 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
3) Multi-Ray鍍層分析軟件
注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,需另計。
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